高波長精度光譜分析儀

高波長精度光譜分析儀適用于DWDM、CWDM以及DWDM over CWDM網(wǎng)絡(luò)的光譜分析儀（OSA）

主要功能

• 波長精度

• 是收發(fā)器測試、制造環(huán)節(jié)測試以及DWDM分析的理想之選

• 通過強(qiáng)化OSA的性能，取代波長計(jì)和OSA的組合

• 采用小巧的外形設(shè)計(jì)，提供出色的波長精度

• 特別適用于系統(tǒng)廠商與收發(fā)器制造商

• 可安裝在LTB-8或FTB-4 Pro平臺(tái)內(nèi)

• 使用氣體腔基準(zhǔn)，終身自動(dòng)調(diào)整波長

• 通過SCPI命令進(jìn)行遠(yuǎn)程控制

• 符合IEC 61282-12標(biāo)準(zhǔn)的Pol-Mux OSNR選件

制造和實(shí)驗(yàn)室研發(fā)環(huán)境的理想工具

EXFO的高波長精度OSA旨在滿足制造和實(shí)驗(yàn)室用戶的需求，它采用緊湊的外形設(shè)計(jì)，提供的性能，可安裝在機(jī)架式的LTB-8平臺(tái)或便攜式FTB-4 Pro平臺(tái)內(nèi)。

高波長精度光譜分析儀取代波長計(jì)和OSA組合，減少成本和測試時(shí)間

在制造收發(fā)器的過程中，通常會(huì)進(jìn)行一系列的測試來評估收發(fā)器的質(zhì)量，包括：中心波長、邊模抑制比、功率等。為了獲得這些參數(shù)非常準(zhǔn)確的測量結(jié)果，會(huì)經(jīng)常使用不同類型的儀表來進(jìn)行測試。例如，會(huì)使用OSA來測量功率和邊模抑制比，而要測量中心波長，則通常需要使用波長計(jì)。

這正是FTBx-5243-HWA可以大顯身手，改變測試面貌的地方。它可以在C頻段，提供±10 pm的波長不確定度，從而取代常見的OSA和入門級波長計(jì)的組合。由于能夠使用單臺(tái)設(shè)備進(jìn)行所需的各種光譜測試，因此可以顯著節(jié)省資本支出并提高測試速度。

在基于衍射光柵的OSA當(dāng)中，提供的波長精度

FTBx-5243-HWA的典型波長不確定度為±4 pm，并可在C頻段內(nèi)保證±10 pm的波長不確定度。下圖所示的FTBx-5243-HWA測試結(jié)果表明，幾乎所有的測量結(jié)果都在真正波長不到±4 pm的范圍內(nèi)。這些測量結(jié)果可追溯到加拿大國家研究委員會(huì)。這個(gè)水平的精度對于如此小巧的設(shè)備來說，無疑是非常出色的

得益于集成的氣體腔標(biāo)準(zhǔn)，F(xiàn)TBx-5243-HWA可定期自動(dòng)地校準(zhǔn)波長，不需要用戶進(jìn)行任何干預(yù)，確保的波長精度。

                                               EXFO設(shè)備測量結(jié)果

*的遠(yuǎn)程控制

FTBx-5243-HWA還提供大量的SCPI命令，用于遠(yuǎn)程控制，可通過以太網(wǎng)或USB端口訪問這些命令。

規(guī)格a

a. 除非另行，否則所有規(guī)格的適用條件為：溫度23 °C ±2 °C、使用FC/UPC連接器，且經(jīng)過預(yù)熱。

b. 1528至1563 nm。

c. 典型值。

d. 1520至1610 nm。

e. 半峰全寬。

f. 1525至1565 nm。

g. 在1550 nm處，偏移模式下。每2秒進(jìn)行一次掃描，持續(xù)進(jìn)行超過2分鐘。采用DFB激光器。

h. 取平均值。單次掃描：-75 dBm（典型值）。

i. 在1550 nm處，-10 dBm輸入功率。

j. 在1550 nm處，采用窄單色光源。

k. 45 nm徑距、全分辨率、20次峰值，在FTB-4 Pro平臺(tái)上。

l. 1525至1570 nm。在FTB-4 Pro平臺(tái)上。